Con representantes de 14 países y las autoridades coordinadoras de la metrología a nivel internacional, el 25 de octubre comenzó en Querétaro el simposio de Metrología 2006.

“El CENAM se siente honrado por la extraordinaria respuesta que hemos recibido de nuestros colegas de todo el mundo. De los cinco continentes acuden a nuestro llamado para compartir experiencias y mostrar los nuevos caminos de la metrología” Agradeció el Dr. Hector Nava Jaimes, Director general del CENAM, en su mensaje durante la ceremonia de inauguración frente a los más de 400 asistentes que para esta ocasión se reunieron.

Por su parte el Lic. Alejandro Gomez Strozzi, Subsecretario de Normatividad, Inversión Extranjera y Prácticas Comerciales Internacionales de la Secretaria de Economía retomó el lema del simposio: Mediciones confiables para el desarrollo de México, para enfatizar la importancia que tiene la aplicación de las buenas técnicas de medición para el progreso de nuestro país. A fin de “alentar el desarrollo exportador de nuestro país”- explicó el subsecretario- “es indispensable que cada vez más empresas, especialmente pequeñas y medianas, apliquen sistemas de aseguramiento de calidad y cuenten con equipos de medición confiables. De ahí que la competitividad de nuestra planta industrial requiera de un sistema metrológico nacional competitivo y reconocido internacionalmente por la calidad de su trabajo”.

Posteriormente, con la representación del Gobierno del Estado de Querétaro, el Lic. Renato López Otamendi, Secretario de Desarrollo Sustentable fue el encargado de dar la declaratoria inaugural. En la mesa de honor, acompañaron a las autoridades estatales y nacionales el Profesor Andrew Wallard, director de la Oficina Internacional de Pesas y Medidas; El Dr. Mitzuru Tanaka, Director del Instituto Nacional de Metrología del Japón; el Dr. Hratch G. Semerjian, Científico en Jefe del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología de los Estados Unidos y el Dr. Jeff Gust presidente de la NCSLI.

“Desde la capital mundial de los láseres estabilizados”, como el mismo Dr. John Hall presentara la oficina encima de su cochera, el premio Nóbel de Física 2005 envió un emotivo mensaje videograbado en el que explicó los motivos que le habían impedido asistir al simposio.

En su ponencia magistral, el Director del BIPM hizo una revisión del sistema metrológico mundial y cómo es que el trabajo actual del organismo que dirige cumple con los retos planteados.

En su tercera participación en un Simposio de Metrología del CENAM, el Profesor Wallard inició su intervención con una pregunta: “¿Hacia un Sistema Metrológico Mundial?” La pregunta se plantea porque el trabajo a nivel internacional desarrollado por el BIPM y los institutos nacionales de metrología ha estado concentrado en la creación y desarrollo de un sistema metrológico que asegure la comparabilidad de las mediciones en todos los países. Desde el punto de vista de la actividad cotidiana, el sistema no parece muy diferente a lo que existía hace diez años. Así que el Prof. Wallard aprovechó la ocasión para hacer un alto para mirar atrás y observar lo que se ha logrado

Con este propósito el director del BIPM comenzó definiendo lo que se espera de un sistema metrológico mundial: En primer lugar debe estar abierto a todos los usuarios, con un sistema único de referencias. Debe ser aplicable a la industria, el comercio y a todos los miembros de la sociedad. También es necesario que brinde la confianza de que los patrones de cada país son equivalentes entre sí. Es necesario que el sistema pueda establecer la trazabilidad de las mediciones a patrones únicos de referencia, así mismo debe ser capaz de eliminar las barreras comerciales relacionadas con aspectos de medición. Debe ser aplicable a la metrología legal, científica e industrial, además de ser un sistema claro y de fácil uso para reguladores, legisladores y acreditadotes. Por último debe dar un valor agregado a sus usuarios y establecer un rol claro para el BIPM.

En cuanto a la congruencia de los patrones nacionales de cada país, es a través del Arreglo de Reconocimiento Mutuo establecido por el CIPM como los institutos nacionales de metrología cuentan con procedimientos que les permiten dar prueba de la equivalencia entre sus patrones y entre sus certificados.

“La infraestructura de medición y los patrones nacionales de medición de una nación son fundamentales para el comercio doméstico e internacional; pero son también importantes para fomentar la innovación y facilitar la transición de descubrimientos científicos al mercado” dijo el director científico del National Institute of Standards and Technology (NIST)

En su conferencia plenaria “Promoviendo la innovación, competitividad y facilitando el comercio” el Dr. Semerjian hizo énfasis en el hecho de que lo que no puede medirse, no puede ser controlado. Y si no se puede controlar, no puede fabricarse confiablemente. Es por esto que el NIST tiene el papel de avanzar en el desarrollo de sistemas de medición y patrones de referencia que permitan a las nuevas innovaciones, propuestas por el ámbito de investigación y desarrollo, ser fabricadas y comercializadas. Dichas Innovaciones surgirán en áreas de reciente creación como la nanoelectronica, la nanomanufactura, celdas de combustible, biotecnología, fuentes de energía renovables, y la informática cuántica. Estos nuevos desarrollos serán altamente dependientes de los avances científicos y tecnológicos relacionados con la medición.

Reforzando su punto el Director Científico del NIST explicó que su institución se esfuerza en detectar las necesidades de la industria y la sociedad en materia de metrología, y en dar soporte a la innovación en su país. En esta línea, ha establecido relaciones cercanas con los diversos sectores industriales para los cuales desarrolla proyectos cuyos resultados son evaluados mediante la relación beneficio costo, que en promedio asciende a 44, esto es, se obtienen $44 dólares de beneficio por cada dólar invertido.

Entre las necesidades que han surgido recientemente se encuentra la nanotecnología, para la cual el NIST está implementando varios programas, como los desarrollos de patrones de referencia para los microscopios de fuerza atómica, y herramientas de manipulación de átomos y moléculas. La biotecnología es otra área que ha requerido la atención del NIST en las últimas fechas, en vista de las aplicaciones en ingeniería genética y ciencias forenses.

Anunciada en Febrero de 2006, la Iniciativa para la Competitividad Norteamericana reconoce el rol que tiene el NIST en el desarrollo de la infraestructura de innovación en Estados Unidos. Esta nueva Iniciativa brinda al NIST los recursos necesarios para proveer a la industria y a la comunidad científica de Norteamérica con las herramientas y referencias de medición que necesitan para mantener y ampliar la competitividad de esa nación a nivel global.

Para su intervención en el Simposio de Metrología 2006, el Dr. Michael Stock, presentó los avances logrados en el trabajo del BIPM para construir una Balanza del Watt, hasta el momento el instrumento más viable para convertirse en la nueva definición del kilogramo.

De las siete unidades del Sistema Internacional, el kilogramo es la única que no está definida por un fenómeno fundamental universalmente reproducible. Su definición es la masa de un prototipo que se conserva en la bóveda de la Oficina Internacional de Pesas y Medidas en París.

En su exposición el Dr. Stock explicó las desventajas que tal artefacto presenta: Es irremplazable; lo que implica un grave problema si el prototipo se pierde o se daña. No es completamente estable, existe evidencia de que su masa ha variado en unos 50 microgramos durante sus 116 años de uso. Otra desventaja es que las definiciones del ampere, la candela y el mol están relacionadas con el kilogramo, por lo que la incertidumbre asociada a esta unidad afecta a las medidas efectuadas en las unidades que dependen de ella.

El Simposio se ha consolidando como el foro más importante en metrología a nivel nacional, lo que también ha servido para que tome fuerza en la comunidad metrológica internacional. Una prueba de ello es la asistencia total al Simposio que en esta ocasión fue de 420 personas, el incremento es visible al compararlo con la asistencia de años anteriores: en 2002 la asistencia alcanzó las 200 personas, para 2004 un total de 328 investigadores e industriales se reunieron en el evento. Las 420 personas de la versión 2006 permanecen dentro de esta tendencia.

El Simposio de Metrología inicialmente fue concebido para ser un evento nacional con la participación de algunos invitados internacionales, sin embargo se ha convertido en un foro Internacional y es que de los 125 trabajos presentados, 52 fueron presentados por autores provenientes de 19 países. La variedad no solo cultural sino formativa de los asistentes refleja la diversidad de la comunidad metrológica, en el evento convivieron tanto especialistas de reconocido prestigio internacional, como metrólogos de experiencia media y personal que se inicia en la ciencia de las mediciones.

La comunidad industrial vinculada a la metrología consideró en este espacio científico un importante lugar de contacto con la comunidad metrológica, y por ello 35 empresas colaboraron para la realización del evento con una feria industrial y 14 conferencias sobre nuevos productos y servicios en Metrología.

Uno de los apoyos importantes fue el otorgado por el Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACYT), con el cual fue posible contar con la presencia de 26 distinguidos investigadores de prestigio internacional.

Debido a la importancia del Simposio y la asistencia de una gran parte de la comunidad metrológica, el Simposio de Metrología 2006 sirvió de marco para la realización de varias reuniones de trabajo laterales como:

• Reunión del Comité Consultivo de Fotometría y Radiometría del Comité Internacional de Pesas y Medidas (CIPM)

• Reunión del Grupo de Trabajo de Metrología Dimensional del Comité Consultivo de Longitud del CIPM

• Tercera Reunión Anual del Club Mexicano de Usuarios de Máquinas de Medición por Coordenadas, impartiéndose 8 conferencias magistrales.

• pReunión de trabajo sobre el tema: “Estrategia para incrementar la disponibilidad y uso de Materiales de Referencia para el desarrollo social y la industria nacional.

• Reunión del Grupo de Presión del Sistema Nacional de Calibración (SNC)

• Reunión del Grupo de Fuerza del SNC.

Como parte de la reunión anual del grupo de trabajo de metrología dimensional del Comité Consultivo de Longitud del CIPM (CCL), se desarrolló una sesión del grupo de discusión 7. Allí se discutieron los retos que la nanometrología plantea, tales como los patrones o métodos para dar trazabilidad a las mediciones en esta escala; las líneas de trabajo que seguirá la metrología mundial y el formato de las comparaciones que requerirá el futuro próximo. Una de las necesidades más apremiantes que plantea esta área es la normalización, hasta ahora casi inexistente.

Un nanómetro es la millonésima parte de un milímetro, a esta escala las propiedades físicas como la conductividad eléctrica, el color, la elasticidad se comportan de manera diferente que en los mismos elementos a mayor tamaño. La nanotecnología es propiamente el desarrollo y la aplicación práctica de estructuras y sistemas en una escala entre 1 y 100 nanómetros.

Trabajar en un espacio del tamaño de la punta de un alfiler, con elementos de apenas un centésimo del grosor de un cabello, requiere de alta exactitud y confianza en las mediciones realizadas. Ante esta problemática los laboratorio metrológicos de todo el mundo hacen propuestas que den trazabilizad y certidumbre a los equipos que desarrollan esta tecnología. En la reunión del grupo de discusión 7 y ante los representantes de 15 países, su coordinador el Dr. Guenter Wilkening dio un panorama de estas propuestas como son los patrones de escalón, estructuras de hasta 800nm en forma de pirámide escalonada y las Escalas de Trazos, “reglas” graduadas de material cerámico (zerodur).

La discusión fue parte de la agenda de la reunión anual del grupo de trabajo en metrología dimensional. Creado en 1997 este grupo es el órgano asesor del CCL en temas relativos a la metrología dimensional. A la décimo primera reunión anual asistieron expertos de Alemania, Australia, Brasil, Canadá, Corea del Sur, España, Estados Unidos, Finlandia, Italia, Japón, Reino Unido, República de China (Taiwán), República de Sudáfrica, Singapur y Suiza.

Durante dos días el grupo alcanzó varios acuerdos y logró avances importantes relativos a comparaciones clave, revisión de Capacidades de medición y calibración, presentación de resultados, enlace de comparaciones de distintas regiones, etc. Toda esta actividad va encaminada a lograr la credibilidad en los certificados que emiten y en los patrones nacionales con los que cuentan los INMs.

Para el Presidente de NCSLI, la labor más importante de la organización es comunicar las mejores prácticas. La metrología, como ciencia, basa su desarrollo en el intercambio y comunicación de información acerca de las mejores prácticas científicas. Dicho intercambio permitirá la implementación de un Sistema metrológico a nivel global de una manera más rápida y económica. “Aprendemos de lo que están haciendo los laboratorios y esa información la compartimos a través de las conferencias y la publicación de prácticas recomendadas” – dice el Dr. Gust - “Como ejemplo tenemos la publicación de cuadernos con las prácticas recomendadas en varios campos, como el ambiental, así como la calibración de sus equipos. Este documento permitirá a quien lo desee, verificar en su laboratorio las pruebas que puede realizar para su supervisión”.

Durante la reunión uno de los puntos más importantes fue el plan de mediano plazo, el cual abarcará los próximos cuatro años. En el área de la internacionalización se planteó la necesidad de incrementar las acciones de promoción en México y Sudamérica. Se planearon también acciones de intercambio de información, experiencia y datos entre el NCSLI y centros metrológicos como el CENAM y otros en Latinoamérica.

En los comités de trabajo, por su parte, se habló de acciones concretas para colaborar en metrología, normalización y evaluación de la conformidad para el sector automotriz y otros sectores relevantes para México y Estados Unidos.

Una directriz importante fue la concepción de un futuro centrado en la innovación. Debido a que muchos de los miembros son fabricantes de instrumentos de medición, ellos, como desarrolladores de instrumentos, lo que ven es la urgencia de innovación y las presiones de competitividad cada vez más urgentes. Entonces lo que buscan es acelerar los mecanismos de innovación a través de la interacción que genera la información distribuida por el NCSLI a sus miembros.

Como miembro del Consejo de Directores, CENAM tiene una representatividad específica en la organización. Esta posición permite que el Centro Nacional de Metrología interactúe con laboratorios de EUA en varios niveles. Uno de ellos es la participación en los comités y grupos de trabajo de NCSLI, comités como el de capacitación y entrenamiento, acreditación, normalización y comités de sectores industriales como el automotriz, el eléctrico-electrónico y el aeronáutico.

Para CENAM una de las acciones más interesantes logradas en esta reunión es la posibilidad de colaborar y compartir información en el ámbito de capacitación. NCSLI ha desarrollado una gran cantidad de material para el entrenamiento y formación del personal de los laboratorios que integran la organización en los distintos campos de la metrología y existe la oferta para que CENAM traduzca y utilice este material.

Así mismo se abrió la posibilidad de invitar laboratorios secundarios mexicanos a participar en pruebas de aptitud y comparaciones con laboratorios metrológicos miembros de NCSLI, lo que permitirá a nuestros laboratorios un mayor abanico de opciones para validar sus capacidades y prácticas con las cuales podrán incrementar la calidad de sus servicios.

Creado en 1933, el Comité Consultivo en Fotometría y Radiometría (CCPR por sus siglas en inglés) es el órgano asesor del CIPM en lo concerniente a los desarrollos de las unidades y patrones relacionados con estas magnitudes. El CCPR ha conformado diversos grupos de trabajo para facilitar las tareas y acuerdos internacionales en la materia.

El Grupo de Trabajo de Planeación Estratégica fue creado en octubre de 2005 y es presidido por el Dr. Franz Hengstberger, actual presidente del CCPR.

Durante la que fuera su primera reunión la discusión más relevante se centró sobre la propuesta que el CCPR presentará sobre el desarrollo de la metrología y la redefinición de cuatro de las unidades de base del sistema internacional de unidades. El documento, que se trabajará en los siguientes días, se empleará como base para sustentar la necesidad de mantener la candela como una de las unidades base del sistema internacional, además de una posible propuesta de establecer dicha unidad sobre una realización cuántica.

El Grupo de Trabajo de Comparaciones Clave es presidido por el Dr. Yoshihiro Ohno, del NIST, la discusión en esta última reunión versó sobre el estado que guardan las actuales comparaciones en proceso, tanto internacionales como regionales para soportar las capacidades de medición y calibración de los países miembros. Se discutió una propuesta sobre la forma de limitar la participación en las comparaciones clave, con la finalidad de hacerlas más manejables, desde los aspectos de tiempo invertido, costo implicado y la forma de ligar a todos los países miembros con los resultados obtenidos. Sobre la periodicidad que se considera conveniente para repetir las comparaciones clave se llegó a un consenso de que a los 10 años de la planeación de una comparación se revisaría la conveniencia de iniciar una nueva con base en el avance de la ciencia y el desarrollo tecnológico.

El Grupo de Trabajo de Capacidades de medición y calibración fue presidido por el representante del CENAM de octubre de 2005 a octubre de 2006, en virtud de que es coordinador actual del grupo de trabajo del Sistema Interamericano de Metrología en el campo. Durante esta reunión se discutió y aprobó la ampliación de las categorías de servicios que pueden ser declarados en la base de datos del BIPM, dentro del MRA, al integrarse servicios sobre irradiancia en ultravioleta, exposición radiante ultravioleta y radiancia total, además de aclarar algunos términos sobre colorimetría. Mediante esta modificación, los laboratorios nacionales, como el CENAM, pueden incluir una mayor variedad de servicios en el catálogo que el BIPM mantiene como parte del MRA, respaldando las capacidades de medición y calibración de los participantes.

El Comité Consultivo en Fotometria y Radiometría del CIPM esta compuesto por 22 miembros de los cuales 13 asistieron a esta última reunión en CENAM. Los asistentes fueron los representantes de Nueva Zelanda, Estados Unidos, Canadá, Inglaterra, Italia, Francia, Finlandia, Japón, Corea, Singapur, Sudáfrica y del BIPM también participaron en el Simposio de Metrología 2006.